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L'attività di ricerca del gruppo è articolata su tre temi principali: la caratterizzazione dei dispositivi a stato solido, affidabilità, analisi ed elaborazione di dati visivi e microelettronica.Nell'ambito della caratterizzazione dei dispositivi a stato solido la ricerca riguarda lo studio di un sistema di misura automatico per la caratterizzazione completa di HEMT pseudomorfi a basso livello di rumore per microonde in GaAs, orientata sia al CAD di amplificatori che di diagnostica.Nell'ambito della affidabilità si seguono differenti linee: per le EEPROM si studia l'influenza di imperfezioni nella realizzazione attraverso opportuni modelli, per i laser a semiconduttore si studia il modo di guasto e per i dispositivi a microstriscia si studia il modello distribuito della struttura con diverso grado di raffinatezza partendo da dati sperimentali di misura.Nel campo dell'elaborazione di dati visivi si studiano architetture basate su una struttura modulare ricorrente, sia analogiche che digitali, per l'estrazione di bordi, segmentazione di tessiture e analisi di profondità da immagini stereo. Tali architetture tengono in considerazione i limiti dell'implementazione VLSI e prende ispirazione da strutture tipiche dell'apparato visivo dei mammiferi.Tutte le attività descritte sono orientate allo studio di problematiche microelettroniche. In questo campo si sta sviluppando una rilevante attività legata allo sviluppo di tematiche legate alla produzione in piccole e medie industrie e alla didattica.

Il gruppo dispone di una sua home page ufficiale.


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